设为首页收藏本站

切换到宽版

EDABOSS电子论坛»技术社区 › IC设计论坛 › IC测试与可测性 › 芯片可测试性设计与ATPG

发新帖

查看: 565|回复: 0

[资料共享] 芯片可测试性设计与ATPG

141 主题	15 回帖	368 E币

助理工程师

Rank: 3 Rank: 3

积分: 297

发消息

发表于 2019-11-1 08:58:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

芯片可测试性设计与ATPG: 74页PPT

Fault Model
DFT
ATPG
ATE

可测试性设计与ATPG.pdf

2.81 MB, 下载次数: 1, 下载积分: E币 -5 元

积分规则

回复

使用道具举报

发新帖

Archiver|手机版|小黑屋|EDABOSS电子论坛

GMT+8, 2024-4-23 20:31 , Processed in 0.041891 second(s), 23 queries .

Powered by Discuz! X3.4

© 2001-2023 Discuz! Team.

快速回复 返回顶部 返回列表