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发表于 2017-12-11 14:49:11 | 显示全部楼层 |阅读模式

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High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip  -- 多处理器片上系统的可靠性高级估计与探索

This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.

本书介绍了一种用于模纳米级CMOS准确建技术中的误差的新框架,并以高级设计抽象开发平滑的工具流程来估计和减轻错误的影响。 本书介绍了高级故障模拟和可靠性估计以及架构级和系统级容错设计的新颖技术。 它还提供了最先进的问题和解决方案的调查和讲解,提供了数字设计中的可靠性问题及其跨层决策的见解。


High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor SoC.rar (12.54 MB, 下载次数: 0)

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发表于 2017-12-26 09:13:51 | 显示全部楼层
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